新一代SPECTROLAB的分析速度、靈活性和精度需求日益提升，PMT/CCD雙檢測器光學系統(tǒng)和全新突破的CCD光學系統(tǒng)為科研和過程/質量控制設定了新的標準。實現了快速、準確、靈活的分析性能。

兩種配置：雙檢測器光學系統(tǒng)或全CCD光學系統(tǒng)

SPECTROLAB提供高性能火花直讀光譜儀的兩種光學系統(tǒng)創(chuàng)新設計。雙檢測器模塊實現了“混合動力”優(yōu)勢，模擬電子技術的檢測器光電倍增管（PMT）和數字技術電荷耦合檢測器（CCD）-呈現超級準確度多元素測量。適合于科研檢測新材料、痕量元素、夾雜物、高純金屬以及貴金屬。

全CCD模塊實現了快速、準確、超級靈活的分析性能。尤其適合快速分析和多基體以及多元素分析的應用。為爐前過程控制和成品質量控制和成品質量控制提分析結果。

靈敏度高

利益于動態(tài)背景校正等新技術，檢測限達到新水平。SPECTROLAB可以準確測定百分之一（PPM）水平的痕量元素含量。

靈活的元素選擇

摒棄了以往耗時，昂貴的硬件通道擴展方式。大多數SPECTRLAB用戶日后增加元素通道將無需增加硬件設置。可選的軟件擴展設置使得用戶甚至可以不用準備標樣制作工作曲線。

高速測量

SPECTROLAB的設計是以抓住每一個機會來滿足金屬分析對速度的需求。例如，高能等離子發(fā)生器光源配合的動態(tài)預然控制，實現縮短優(yōu)質試樣分析時間。因而，瞬間切換到激發(fā)測量階段。增加單位時間樣品測試數量。在許多應用中都可以實現超級短的分析時間。